AR 频谱外推法在超声 C 扫描成像中的应用············宋荣国窦致夏吕炎张斌鹏文硕吴斌何存富

点击：时间：2020-06-02

AR 频谱外推法在超声 C 扫描成像中的应用
超声波方向性好、穿透能力强、无辐射
影响，而且易于获得较集中的声能，所以常
被用于无损检测，超声 C 扫描（Ultrasonic
C-scan）是超声波无损检测中的一种常见方
法 [1,7] 。在超声 C 扫描中，通常所采集到的
时域回波信号会受到外界因素的干扰，如材
料的散射噪声、计算机及数据采集卡等高频
数字电路产生的高频干扰、电机和扫描架的
振动、传输线的品质等 [2] 。这些外界因素均
会影响时域回波信号的信噪比（SNR）和时
间方向的辨识度，造成回波湮没在噪声中，
以及多个回波重叠难以分辨等诸多问题，进
而使成像特征值的选取变得更加困难，甚至
选取出不准确的成像特征值，降低 C 扫描图
像的质量，限制了超声 C 扫描的应用范围。